INSPECȚIA ȘI AMBALAJUL DIODEI DE SUDARE SERIA ZW
Metode de testare și reguli de inspecție
1. Inspecție lot cu lot (inspecție grupa A)
Fiecare lot de produse trebuie inspectat conform tabelului 1, iar toate articolele din tabelul 1 sunt nedistructive.
Tabelul 1 Inspecție pe lot
| grup | InspecţieArticol | Metoda de inspecție | Criteriu | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Aspect | Inspecție vizuală (în condiții normale de iluminare și vedere) | Logo-ul este clar, acoperirea și placarea suprafeței nu se decojesc și nu se deteriorează. | 1.5 |
| A2a | caracteristici electrice | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) în JB/T 7624—1994 | Polaritate inversată:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4,1(25℃) în JB/T 7624—1994 | Reclamație la cerințe | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃, 170℃) în JB/T 7624—1994 | Reclamație la cerințe | ||
| Notă: USL este valoarea limită maximă. | ||||
2. Inspecție periodică (inspecție de grup B și grup C)
Conform Tabelului 2, produsele finalizate în producție normală ar trebui să fie inspectate cel puțin un lot din Grupa B și Grupa C în fiecare an, iar articolele de inspecție marcate cu (D) sunt teste distructive.Dacă inspecția inițială nu este calificată, eșantionarea suplimentară poate fi reinspectată conform tabelului A.2 din apendicele, dar o singură dată.
Tabelul 2 Inspecția periodică (Grupa B)
| grup | InspecţieArticol | Metoda de inspecție | Criteriu | Plan de eșantionare | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Ciclul de temperatură (D) urmat de etanșare |
| Măsurare după test:VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL nu scurgeri | 6 | 1 |
| CRRL | Dați pe scurt atributele relevante ale fiecărui grup, VFM și euRRMvalorile înainte și după test și concluzia testului. | ||||
3. Inspecție de identificare (inspecție de grup D)
Când produsul este finalizat și pus în evaluarea producției, în plus față de inspecțiile grupului A, B, C, testul grupului D ar trebui să se facă, de asemenea, conform tabelului 3, iar articolele de inspecție marcate cu (D) sunt teste distructive.Producția normală de produse finalizate va fi testată cel puțin un lot din grupa D la fiecare trei ani.
Dacă inspecția inițială eșuează, eșantionarea suplimentară poate fi reinspectată conform tabelului A.2 din apendicele, dar o singură dată
Tabelul 3 Test de identificare
| No | grup | InspecţieArticol | Metoda de inspecție | Criteriu | Plan de eșantionare | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Test de sarcină ciclului termic | Timpi de ciclu: 5000 | Măsurare după încercare: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Șocuri sau vibrații | 100 g: mențineți 6 ms, formă de undă semisinusoidală, două direcții a 3 axe reciproc perpendiculare, de 3 ori în fiecare direcție, în total de 18 ori.20 g: 100 ~ 2000 Hz, 2 ore din fiecare direcție, total 6 ore. | Măsurare după test: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Dați pe scurt datele atributelor relevante ale fiecărui grup, VFM , IRRMși euDRMvalorile înainte și după test și concluzia testului. | |||||
Marcare și ambalare
1. Mark
1.1 Marcaj pe produs include
1.1.1 Numărul produsului
1.1.2 Marca de identificare a terminalului
1.1.3 Numele companiei sau marca comercială
1.1.4 Cod de identificare a lotului de inspecție
1.2 Logo pe cutie sau instrucțiuni atașate
1.2.1 Modelul produsului și numărul standard
1.2.2 Numele și sigla companiei
1.2.3 Semne rezistente la umiditate și ploaie
1.3 Pachetul
Cerințele de ambalare a produselor trebuie să respecte reglementările interne sau cerințele clienților
1.4 Document de produs
Modelul produsului, numărul standard de implementare, cerințele speciale de performanță electrică, aspectul etc. trebuie să fie menționate pe document.
Thedioda de sudareprodus de Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor este aplicat pe scară largă în aparatele de sudură cu rezistență, mașini de sudură cu frecvență medie și înaltă de până la 2000 Hz sau mai mult.Cu o tensiune de vârf ultra-scăzută, rezistență termică ultra-scăzută, tehnologie de fabricație de ultimă oră, capacitate excelentă de înlocuire și performanță stabilă pentru utilizatorii globali, dioda de sudare de la Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor este unul dintre cele mai fiabile dispozitive din puterea Chinei. produse semiconductoare.